MICROTRAC原位分析儀Nanotrac Flex
天津瑞利光電科技有限公司經銷MICROTRAC原位分析儀。
產品詳情：
原位分析儀Nanotrac Flex
描述：
Nanotrac Flex采用Microtrac增強的動態光散射技術，是使用min樣品量測量寬濃度范圍內顆粒的理想選擇。恰當地命名，外部探針可以靈活地在原位或實驗室工作臺上測量從亞納米到幾微米的懸浮液。
MICROTRAC原位分析儀-Nanotrac Flex
天津瑞利光電科技有限公司經銷MICROTRAC原位分析儀。
產品詳情：
MICROTRAC原位分析儀-Nanotrac Flex
描述：
Nanotrac Flex采用Microtrac增強的動態光散射技術，是使用min樣品量測量寬濃度范圍內顆粒的理想選擇。恰當地命名，外部探針可以靈活地在原位或實驗室工作臺上測量從亞納米到幾微米的懸浮液。
基于180°外差動態光散射，Nanotrac Flex可以測量高達40％w / v的材料濃度。通過這種設置，激光束的一部分被添加到散射光中，其工作方式類似于光學增強。除了粒徑之外，還可以測量根據Debye的分子量，而無需手動添加所需的dn / dc值。浸入式探頭可通過原位分析進行直接測量。這樣做的好處是不需要比色皿，產品中的直接測量和原位選擇。在10至360秒的測量時間之后準備好結果，其中諸如折射率，顆粒吸收和粘度的參數可在數據庫中獲得。通過利用專有的Mie計算，用戶能夠測量透明或吸光樣品以及球形，非球形和不規則顆粒。
詳細信息：
- 具有180°反向散射的外部探頭
- 將任何容器轉入樣品池 - 外部探針允許您浸入和測量
- 所需的樣品量小，低至5μl
- 顆粒尺寸范圍從0.8到6,500納米
- 無需*，或“粒度分布”的“先驗”知識
- 同時測量尺寸和濃度的能力 - 觀察能力的演示。多種探頭長度可從1.0米到3.5米不等
- 通用溶劑兼容性
- 分子量測定
公司介紹：
麥奇克MICROTRAC以其在激光衍射/散射技術和顆粒表征方面的獨到見解，經過多年的市場調研和潛心研究，開發出新一代Zetatrac微電場分析技術，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體，無需傳統的比色皿，一次進樣即可得到準確的粒度分布和Zeta電位分析數據
天津瑞利光電創立以來一直秉承'以誠興業，共存共榮'的經營理念，視客戶與伙伴為摯友，視員工為公司的寶貴財富，團結一致，開拓創新，勇于打破行業發展瓶頸，逐步構建并擴大公司在自動化領域的一體化供銷網絡與服務中心。'整合行業 資源，力爭行業好口碑，勇做行業發展引擎'將是瑞利人永遠的追求，我們愿與更多的用戶和國內外 品牌供應商攜手并進，一起為國內工業發展貢獻力量，共同發展，共同繁榮。
