Bruker Q2火花直讀光光譜儀
新一代直讀光譜儀Q2 ION在金屬材料分析的便捷性和簡易性上，帶來了一場新的革命。Q2 ION是現今市場上較為輕巧的高性能直讀光譜儀。源自顛覆性的設計理念，緊湊的體積和強大的分析功能得以*地融合。Q2 ION可同時配備多種基體,適用于金屬行業中的來料檢驗及質量控制，同時，儀器力的價格定位及較低的運行成本無疑使其在眾多中小企業中備受青睞。
儀器簡介 Bruker Q2火花直讀光光譜儀
德國布魯克Bruker全新設計的新一代直讀光譜儀Q2 ION在金屬材料分析的便捷性和簡易性上，帶來了一場新的革命。Q2 ION是現今市場上較為輕巧的高性能直讀光譜儀。源自顛覆性的設計理念，緊湊的體積和強大的分析功能得以*地融合。Q2 ION可同時配備多種基體,適用于金屬行業中的來料檢驗及質量控制，同時，儀器力的價格定位及較低的運行成本無疑使其在眾多中小企業中備受青睞。
Q2在許多應用，例如鐵基、鋁基和銅基材料的分析中涵蓋所有的重要元素，能夠很好地滿足中小鑄造企業，金屬加工企業，質量管理部門，原料堆放倉庫，金屬回收企業，甚至檢測機構的分析要求。
主要特點 Bruker Q2火花直讀光光譜儀
*的設計使得Q2 ION的重量只有不到20kg，可輕易攜帶到周邊的場所進行現場分析工作。除此之外，儀器還有配套的行李箱可供用戶選擇，以方便儀器的攜帶及運輸。
Q2 ION采用了技術—平面視場CCD光學系統，該技術使得Q2 ION的設計突破了傳統光譜的桎梏。光學系統所配備的動態溫度補償技術（AAC），確保儀器即便在10°C至45°C之間的外界溫度變化下也具有極其優異的穩定性。
技術參數
光學系統
非渡膜CCD檢測器，具有低的暗電流
平面光柵
波長覆蓋范圍：170-685nm
分辨率：30pm
氬氣驅氣以確保光通量。
譜圖解析技術
動態溫度補償技術，確保在10至45度的外界溫度下具有的穩定性
分析方法組件
可應用于各種不同基體
覆蓋所有主要元素及合金類型
適應未來升級需要
激發源
免維護，兩相ＰＷＭ激發源
頻率５０－１０００Ｈｚ
