VM系列 3D光學影像DIC微分干涉偏光顯微量測復合儀

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型號VM系列
品牌
所在地
更新時間2018-05-15

佛山市禪城區奧泰儀器儀表行

廠商性質經銷商
所在地區廣東
實名認證已認證
產品數量32
人氣值550

產品標簽

3D光學影像DIC微分干涉偏光顯微量測復合儀

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產品簡介在線詢價

1. X/Y/Z三軸光學尺2. OVM-Lite版光學影像量測軟件3. 精度:3+L/200μm4. CCD: 日本原裝SENTECH CCD5. 鏡頭:NIKON微分干涉偏光鏡頭模塊

3D光學影像DIC微分干涉偏光顯微量測復合儀產品詳情

D光學影像DIC偏光顯微量測復合儀中偏光顯微鏡系統是將精銳的光學顯微鏡技術、*的光電轉換技術、*的計算機圖像處理技術、光學量測*地結合在一起，可以在計算機顯示器上很方便地觀察到物體分子產生的正立的三維空間像，立體感強，成像清晰和寬闊，具有較長的工作距離，對偏光圖譜進行分析等對圖片進行輸出、打印；同時又可以進行光學量測，結合本公司自行研發的軟體，可以對工件各個測量元素進行高精確度的量測，并可以EXCEL、WORD、TXT格式輸出做數據分析。

1. X/Y/Z三軸光學尺
2. OVM-Lite版光學影像量測軟件
3. 精度:3+L/200μm
4. CCD: 日本原裝SENTECH CCD
5. 鏡頭:NIKON微分干涉偏光鏡頭模塊

具體型號	VM-偏光250	VM-偏光300	VM-偏光400
(X/Y/Z軸)量測行程(mm)	250＊150＊200	300＊200＊200	400＊300＊200
全機尺寸(mm)	1000＊650＊1650	1000＊650＊1650	1000＊650＊1650
機臺底座和立柱材料	高精度花崗石
CCD	3DFAMILY彩色CCD
X,Y軸量測精度	（3+L/200）um
放大倍率	43萬像素日本原裝彩色CCD
光學尺解析度	1 um
重復性	2 um
操作方式	手動
機臺承重	30KG
電源供給	110/220V
合適溫度，濕度	溫度：19°--24°，濕度：45%--75%
保修期	1年

關鍵詞：顯微鏡光學顯微鏡圖像處理顯示器

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